一种单光子探测器参数测量系统及方法

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专利状态

一种单光子探测器参数测量系统及方法

有效

专利申请进度

申请

2020-02-24

申请公布

2020-06-02

授权

2021-10-22

预估到期

2040-02-24

专利基础信息

申请号	CN202010110979.3	申请日	2020-02-24
申请公布号	CN111220286A	申请公布日	2020-06-02
授权公布号	CN111220286B	授权公告日	2021-10-22
分类号	G01J11/00
分类	测量；测试;
申请人名称	四川九洲电器集团有限责任公司
申请人地址	四川省绵阳市科创园区九华路6号

专利法律状态

2021-10-22

授权

状态信息

授权
2020-06-26

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01J11/00；申请日:20200224
2020-06-02

公布

状态信息

公布

摘要

本发明为一种单光子探测器参数测量系统及方法，其中，该系统包括光源模块、数据采集处理模块和显控模块；该系统还包括信号源及延时子模块，所述信号源及延时子模块用于接收数据采集处理模块输出的控制信号，根据控制信号向光源模块输出时序发生信号控制光源模块产生单光子脉冲信号时间，同时向待测单光子探测器输出门控信号，控制待测单光子探测器开门时间，使单光子脉冲信号到达待测单光子探测器时间和待测单光子探测器开门时间一致。该系统弥补了测量系统同步性低所导致测量单光子探测器参数精度不高的问题，提高了测量精度。

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