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专利状态
一种基于透镜多波束天线的测角方法、系统及介质
有效
专利申请进度
申请
2021-12-16
申请公布
2022-03-25
授权
2023-01-24
预估到期
2041-12-16
专利基础信息
申请号 CN202111546329.4 申请日 2021-12-16
申请公布号 CN114234904A 申请公布日 2022-03-25
授权公布号 CN114234904B 授权公告日 2023-01-24
分类号 G01C1/00;G01S3/14;H01Q15/08
分类 测量;测试;
申请人名称 四川九洲电器集团有限责任公司
申请人地址 四川省绵阳市科创园区九华路6号
专利法律状态
  • 2023-01-24
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-03-25
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种基于透镜多波束天线的测角方法,包括如下步骤:基于透镜多波束天线构建三维坐标系,且该三维坐标系的原点为O;获取接收通道采集的天线波束数据;通过比幅算法算得原点O到天线波束中多个点N1、N2……Nn之间的相对角位置参数Kn1、Kn2……Knn。一种透镜多波束天线的测角系统。一种计算机可读存储介质。本发明提供了基于透镜多波束天线的测角方法和系统,利用目标信号的比幅法、多点定位的直接法、迭代法进行巧妙的等效转化与结合,实现了基于透镜多波束天线的无源测角方法设计,有利于透镜多波束天线的推广应用,作为相控阵天线的有力补充,能够适应更多的应用场景,可以产生更大的效果。