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专利状态
一种测量治具和测量设备
有效
专利申请进度
申请
2020-09-23
授权
2021-04-23
预估到期
2030-09-23
专利基础信息
申请号 CN202022109372.1 申请日 2020-09-23
授权公布号 CN213041721U 授权公告日 2021-04-23
分类号 G01N21/01
分类 测量;测试;
申请人名称 浙江水晶光电科技股份有限公司
申请人地址 浙江省台州市椒江区星星电子产业区A5号(洪家后高桥村)
专利法律状态
  • 2021-04-23
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型提供一种测量治具和测量设备,涉及测量技术领域,包括在基板上开设有镂空结构,即在基板上挖设或开设有沿基板厚度方向贯穿的孔洞结构。在镂空结构的周壁上设置有凸起,从而通过凸起将放置于镂空结构位置的晶片承托起来,使得晶片能够不直接与机台接触,不仅可以有效的避免晶片和机台的相互接触造成的损伤,还可以减小晶片的接触面积,使得晶片在测量时调整角度或拿取都会更加便利,有效的提高了测量的效率。