限位框、芯片测试装置及芯片测试方法

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专利状态

限位框、芯片测试装置及芯片测试方法

有效

专利申请进度

申请

2013-06-27

申请公布

2014-12-31

授权

2017-05-03

预估到期

2033-06-27

专利基础信息

申请号	CN201310264346.8	申请日	2013-06-27
申请公布号	CN104251922A	申请公布日	2014-12-31
授权公布号	CN104251922B	授权公告日	2017-05-03
分类号	G01R1/04
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市江波龙电子股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

专利法律状态

2019-01-22

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更IPC(主分类):G01R 1/04变更前专利权人:深圳市江波龙电子有限公司地址:518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1变更后专利权人:深圳市江波龙电子股份有限公司地址:518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1
2017-05-03

授权

状态信息

授权
2015-01-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/04申请日:20130627
2014-12-31

公布

状态信息

公开

摘要

本发明适用于芯片测试技术领域，公开了一种限位框、芯片测试装置及芯片测试方法。限位框包括框体，所述框体具有用于定位芯片的内框，所述框体的外框与测试座的容纳部相匹配，所述内框与芯片外形尺寸相匹配。芯片测试装置包括测试座和上述的限位框。测试方法，包括以下步骤，制备外形尺寸与测试座容纳部匹配且内框尺寸与各芯片匹配的多个限位框，根据芯片的外形选用相应的限位框，于所述芯片测试装置的测试座上安装所述的限位框，再将芯片安放于限位框内并使芯片的接口与所述测试座上的电接触端子组匹配。本发明提供的限位框、芯片测试装置及芯片测试方法，其提高了芯片测试装置的通用性，降低了芯片测试的成本。

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