一种散热测试方法及系统和发热装置

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专利状态

一种散热测试方法及系统和发热装置

有效

专利申请进度

申请

2019-04-09

申请公布

2020-10-20

授权

2023-12-15

预估到期

2039-04-09

专利基础信息

申请号	CN201910292044.9	申请日	2019-04-09
申请公布号	CN111800305A	申请公布日	2020-10-20
授权公布号	CN111800305B	授权公告日	2023-12-15
分类号	H04L43/08;H05K7/20
分类	电通信技术;
申请人名称	中兴通讯股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦

专利法律状态

2023-12-15

授权

状态信息

授权
2022-03-18

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):H04L12/26；申请日:20190409
2020-10-20

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种散热测试方法及系统和发热装置，其中散热测试方法，应用于散热测试系统，该散热测试系统包括发热装置和散热装置，其中，该发热装置包括电源单元、发热单元和温度传感器，该电源单元和该发热单元相连，该方法包括：根据该电源单元输出功率调整该发热单元的发热功率；测量该发热单元的温度；在到达预设温度阈值的情况下，启动散热装置进行散热处理。通过本发明，解决了相关技术中开发过程中芯片散热测试精度低周期长的问题，提升芯片散热测试的精度和测试周期。

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