射频电路测试方法、装置、系统及移动终端

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专利状态

射频电路测试方法、装置、系统及移动终端

有效

专利申请进度

申请

2015-10-23

申请公布

2017-05-03

授权

2021-06-01

预估到期

2035-10-23

专利基础信息

申请号	CN201510697847.4	申请日	2015-10-23
申请公布号	CN106612149A	申请公布日	2017-05-03
授权公布号	CN106612149B	授权公告日	2021-06-01
分类号	H04B17/00
分类	电通信技术;
申请人名称	小米科技有限责任公司
申请人地址	北京市海淀区清河中街68号华润五彩城购物中心二期13层

专利法律状态

2021-06-01

授权

状态信息

授权
2017-06-27

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):H04B17/00；申请日:20151023
2017-05-03

公布

状态信息

公布

摘要

本公开实施例公开了一种射频电路测试方法、装置、系统及移动终端，由移动终端完成自身射频电路的测试。具体的，移动终端产生测试指令，并发送给综测仪，以及，移动终端向自身内部的基带处理器发送射频控制指令，该射频控制指令用于控制基带处理器收发射频信号；然后，移动终端与综测仪之间传输射频信号，从而完成射频电路测试过程，并将测试数据存储到移动终端内部的存储区域中，以便后续从存储区域中导出测试数据，分析测试结果。利用移动终端完成相关技术中计算机的任务，因此，避免了计算机的处理速度与移动终端的响应速度不匹配的现象发生，大大提高了射频电路测试的测试速；而且，用移动终端代替计算机，减少了测试设备，进而降低测试成本。

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