内存参数调试方法及装置_专利查询-品牌网

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专利状态

内存参数调试方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2019-12-06

申请公布

2020-03-27

授权

2022-07-12

预估到期

2039-12-06

专利基础信息

申请号	CN201911244452.3	申请日	2019-12-06
申请公布号	CN110928736A	申请公布日	2020-03-27
授权公布号	CN110928736B	授权公告日	2022-07-12
分类号	G06F11/22
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	迈普通信技术股份有限公司
申请人地址	四川省成都市高新区天府三街288号1栋15-24层

专利法律状态

2022-07-12

授权

状态信息

授权
2020-04-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06F11/22；申请日:20191206
2020-03-27

公布

状态信息

公布

摘要

本申请提供了一种内存参数调试方法及装置，针对每一个待测试的K值，根据预存的各字节的DQS引脚和CK引脚的走线长度，获得该K值下每个字节的内存驱动参数。进而对内存控制器进行内存读写测试，获取在该K值对应的内存驱动参数下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率，最后根据各待测试的K值下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率确定出工作性能最优的K值；该K值所对应内存驱动参数即为内存控制器的内存驱动参数。由于K值实际受PCB板材、走线铜厚、走线线宽、过孔和温度环境等多重因素的影响，因此通过上述方式得到的内存驱动参数，可以充分考量实际环境下各内存驱动参数的优劣，从而得到工作性能优良的内存驱动参数。

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