用于控制陶瓷表面处理设备的方法和系统

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专利状态

用于控制陶瓷表面处理设备的方法和系统

有效

专利申请进度

申请

2023-07-14

申请公布

2023-10-20

授权

2024-03-12

预估到期

2043-07-14

专利基础信息

申请号	CN202310866721.X	申请日	2023-07-14
申请公布号	CN116909226A	申请公布日	2023-10-20
授权公布号	CN116909226B	授权公告日	2024-03-12
分类号	G05B19/418
分类	控制；调节;
申请人名称	湖南新世纪陶瓷有限公司
申请人地址	湖南省株洲市醴陵经济开发区瓷谷大道旁

专利法律状态

2024-03-12

授权

状态信息

授权
2023-11-07

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G05B19/418；申请日:20230714
2023-10-20

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了用于控制陶瓷表面处理设备的方法和系统，涉及陶瓷加工技术领域，包括功率分析模块、质量检测模块以及工序追踪模块；功率分析模块用于接收陶瓷表面处理设备的周期功率值并进行功率稳偏指数Gs分析，判断是否需要对陶瓷表面处理设备进行功率补偿；当陶瓷制品执行完表面处理工序后，质量检测模块用于检测员对处理后的陶瓷制品进行质量检测，然后检测员将工序评分反馈至控制中心；工序追踪模块用于根据数据库中存储的带有时间戳的工序执行信息进行工序损耗指数SH分析；若SH≥预设损耗阈值，则判定对应陶瓷表面处理设备损耗异常，生成设备异常信号至控制中心，以提醒管理人员对陶瓷表面处理设备进行检修，提高工作效率。

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