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专利状态
一种光栅平动结构光三维测量系统及三维测量方法
有效
专利申请进度
申请
2021-05-17
申请公布
2021-08-13
授权
2023-03-24
预估到期
2041-05-17
专利基础信息
申请号 CN202110534572.8 申请日 2021-05-17
申请公布号 CN113251952A 申请公布日 2021-08-13
授权公布号 CN113251952B 授权公告日 2023-03-24
分类号 G01B11/25
分类 测量;测试;
申请人名称 四川川大智胜软件股份有限公司
申请人地址 四川省成都市武科东一路7号
专利法律状态
  • 2023-03-24
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-08-13
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及光学检测三维成像领域,特别是一种光栅平动结构光三维测量系统及三维测量方法,即采用一个动光栅照明投影,即是采用一片确定条纹频率的平动光栅片进行照明投影,测量过程中,通过沿垂直栅格方向平移一定周期并同时投射抓拍调制图样即可进行测量,亦可以根据测量需要进行更换不同空间频率的光栅片元件。本发明的投射结构有别于传统的光机DMD投射装置,是一种简单易控的空间结构光相位调制投射装置。能够不依赖于复杂的条纹显示控制程序,而仅用光栅的精确机械位移就能实现复杂电子系统才能完成的功能,大大的简化了系统复杂度,从而在保证了测量精度的同时极大的减少了系统的体积与成本。