物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质

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专利状态

物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质

有效

专利申请进度

申请

2020-08-17

申请公布

2020-11-27

授权

2023-12-08

预估到期

2040-08-17

专利基础信息

申请号	CN202010823262.3	申请日	2020-08-17
申请公布号	CN111999273A	申请公布日	2020-11-27
授权公布号	CN111999273B	授权公告日	2023-12-08
分类号	G01N21/64
分类	测量；测试;
申请人名称	无锡先导智能装备股份有限公司
申请人地址	江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新锡路20号

专利法律状态

2023-12-08

授权

状态信息

授权
2020-12-15

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N21/64；申请日:20200817
2020-11-27

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及一种物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质。方法包括：获取在荧光激发光源照射下采集的经过滤光处理的当前待检测物体的荧光图像，待检测物体包括按图像采集方向间隔放置且标准荧光剂涂敷区域不同的第一类物体和第二类物体，根据当前待检测物体的类别，确定对应的标准荧光剂涂敷区域，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。物体叠放和荧光剂涂敷区域不同便于将物体的缺陷通过相邻物体的对比来呈现，通过滤光和荧光进行成像，能够避免相邻的待检测物体的原本成像颜色对当前待检测物体的缺陷检测结果造成干扰，基于荧光图像和荧光剂涂敷区域的参考比对，获得准确的缺陷检测结果。

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