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专利状态
一种X光检测装置
有效
专利申请进度
申请
2022-05-30
授权
2022-10-11
预估到期
2032-05-30
专利基础信息
申请号 CN202221324520.4 申请日 2022-05-30
授权公布号 CN217561757U 授权公告日 2022-10-11
分类号 G01V5/00
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳市天和时代电子设备有限公司
申请人地址 广东省深圳市福田区梅林街道北环路梅林多丽工业区厂房2栋第3层311房
专利法律状态
  • 2022-10-11
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型提供一种X光检测装置,包括:光源部、探测部和待检物品;所述光源部和所述探测部间隔设置,以形成供所述待检物品通过的检测通道;其中,所述光源部包括:第一光源和第二光源;所述探测部包括:第一探测器和第二探测器;所述第一光源向所述第一探测器发射光源,以实现形成第一探测面;所述第二光源向所述第二探测器发射光源,以实现形成第二探测面;所述第一探测面与所述第二探测面沿垂直于所述待检物品的通过方向,形成部分非重叠的探测区域,以实现减少所述待检物品的检测盲区。本实用新型提供的一种X光检测装置,通过设置双光源和双探测器,减小了盲区的存在,实现了车辆等大型物品的检测。