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专利状态
单方向扫描传感器测量数据矢量化方法及装置
有效
专利申请进度
申请
2022-03-15
申请公布
2022-04-12
授权
2022-05-31
预估到期
2042-03-15
专利基础信息
申请号 CN202210249808.8 申请日 2022-03-15
申请公布号 CN114322847A 申请公布日 2022-04-12
授权公布号 CN114322847B 授权公告日 2022-05-31
分类号 G01B11/25;G01B7/28
分类 测量;测试;
申请人名称 北京精雕科技集团有限公司
申请人地址 北京市门头沟区石龙工业区永安路10号
专利法律状态
  • 2022-05-31
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-04-12
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供一种单方向扫描传感器测量数据矢量化方法及装置,可以实现单方向扫描传感器测量数据的矢量化,提高单方向扫描传感器的适用性和测量精度,解决了单方向扫描传感器应用中的适用性不足、精度差等问题,促进了单方向扫描传感器在实际中的应用和优势发挥,具有非常实际的应用价值。