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专利状态
图像缺陷分类方法、装置及电子设备
有效
专利申请进度
申请
2020-11-05
申请公布
2020-12-04
授权
2021-05-04
预估到期
2040-11-05
专利基础信息
申请号 CN202011219552.3 申请日 2020-11-05
申请公布号 CN112036517A 申请公布日 2020-12-04
授权公布号 CN112036517B 授权公告日 2021-05-04
分类号 G06K9/62;G06K9/46;G06T3/40
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 中科创达软件股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区清华东路9号创达大厦1层101-105室(东升地区)
专利法律状态
  • 2021-05-04
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-12-22
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效
  • 2020-12-04
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明实施例公开了一种图像缺陷分类方法、装置及电子设备,涉及数据处理技术领域。该方法包括:针对待进行缺陷检测的目标图像进行缩放处理,得到与所述目标图像对应的缩略图;基于提取到的所述粗特征,通过反向梯度的方式得到所述目标图像对应的热力图;利用所述骨架网络中的细特征提取分支,对所述缺陷子图进行特征提取,得到所述目标图像的细特征;通过分支特征权重调节器,对所述粗特征和所述细特征进行权值调整,得到最终的目标特征,所述目标特征用于输入到集成分类器,以便于在所述集成分类器中对所述目标图像的缺陷类别进行预测。通过本申请的方案,提高了图像缺陷分类的效率。