输入信号生成方法、开关量测试系统、存储介质及设备

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专利状态

输入信号生成方法、开关量测试系统、存储介质及设备

有效

专利申请进度

申请

2018-11-07

申请公布

2019-01-11

授权

2021-01-26

预估到期

2038-11-07

专利基础信息

申请号	CN201811318162.4	申请日	2018-11-07
申请公布号	CN109188035A	申请公布日	2019-01-11
授权公布号	CN109188035B	授权公告日	2021-01-26
分类号	G01R1/28;G01R31/00
分类	测量；测试;
申请人名称	华自科技股份有限公司
申请人地址	湖南省长沙市高新开发区麓谷麓松路609号

专利法律状态

2021-01-26

授权

状态信息

授权
2019-02-12

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2019-01-11

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及一种输入信号生成方法、开关量测试系统、存储介质及设备，获取待测试设备的逻辑标识信息；根据逻辑标识信息，确定对待测试设备进行开关量测试时的输入信号的信号逻辑；根据确定的信号逻辑生成对应的开关量测试输入信号。在进行测试时，通过待测试设备的逻辑标识信息即可自动确定对应的开关量测试输入信号，起到自动控制开关量测试输入信号的目的，从而可以自动采用不同的信号逻辑对不同的设备进行开关量测试，提高测试效率，同时也能增大适用范围。

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