光综合测试仪（F225）_专利查询-品牌网

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专利状态

光综合测试仪（F225）

有效

专利申请进度

申请

2017-08-07

授权

2018-01-30

预估到期

2027-08-07

专利基础信息

申请号	CN201730355747.3	申请日	2017-08-07
授权公布号	CN304481729S	授权公告日	2018-01-30
分类号	10-04(11)
分类
申请人名称	一诺仪器（中国）有限公司
申请人地址	山东省威海市高技区天津路190号院内

专利法律状态

2018-01-30

授权

状态信息

授权

摘要

1．本外观设计产品的名称：光综合测试仪（F225）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测量光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位，光纤端面检查，及作为可视光源。3．本外观设计产品的设计要点：产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图1。

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