一种测定碳化钨中杂质元素的检测方法

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专利状态

一种测定碳化钨中杂质元素的检测方法

有效

专利申请进度

申请

2015-01-09

申请公布

2016-08-03

授权

2019-06-25

预估到期

2035-01-09

专利基础信息

申请号	CN201510009654.5	申请日	2015-01-09
申请公布号	CN105823772A	申请公布日	2016-08-03
授权公布号	CN105823772B	授权公告日	2019-06-25
分类号	G01N21/73;G01N1/44
分类	测量；测试;
申请人名称	自贡硬质合金有限责任公司
申请人地址	四川省自贡市大安区人民路111号

专利法律状态

2019-06-25

授权

状态信息

授权
2016-08-31

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/73申请日:20150109
2016-08-03

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种测定碳化钨中杂质元素的检测方法，具体是利用电感耦合等离子体发射光谱法快速测定碳化钨及铸造碳化钨中钴、镍、铁、钛、铝、锰、镁、钒、铬、铜、钼。采用氢氟酸和硝酸在电热消解仪中消解样品，在不分离钨基体的情况下，用高纯钨基体匹配制备标准工作曲线，解决钨基体对待测元素的光谱干扰，选择各元素最佳波长，并进行背景校正，用电感耦合等离子体发射光谱法快速同时测定碳化钨及铸造碳化钨中钴、镍、铁、钛、铝、锰、镁、钒、铬、铜、钼。本发明的检测方法操作简单，检测周期短，样品处理简便，检测范围宽，适用于批量生产分析。

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