一种标定方法、装置、单目激光测量设备及标定系统

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专利状态

一种标定方法、装置、单目激光测量设备及标定系统

有效

专利申请进度

申请

2020-09-22

申请公布

2020-12-29

授权

2024-03-01

预估到期

2040-09-22

专利基础信息

申请号	CN202011002827.8	申请日	2020-09-22
申请公布号	CN112147625A	申请公布日	2020-12-29
授权公布号	CN112147625B	授权公告日	2024-03-01
分类号	G01S17/42;G01S7/497;G01S7/481
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市道通科技股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号智园B1栋7层、8层、10层

专利法律状态

2024-03-01

授权

状态信息

授权
2021-01-15

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01S17/42；申请日:20200922
2020-12-29

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及激光标定技术领域，公开了一种标定方法、装置、单目激光测量设备及标定系统，所述方法包括：获取相机采集到的标靶的激光线图像；根据所述激光线图像，确定所述凹槽区的每一凹槽的激光凹槽深度；根据每一凹槽的激光凹槽深度与每一凹槽一一对应的标准凹槽深度，确定预设的激光平面方程的初始参数值对应的损失函数；根据所述损失函数，更新所述初始参数值以确定更新后的参数值，并确定标定后的激光平面方程。通过在凹槽区设置多个不同深度的凹槽，构造损失函数并基于所述损失函数，更新参数值以确定标定后的激光平面方程，本发明能够实现减少标定时间，提高标定的准确性。

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