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专利状态
一种新型X射线衍射仪制样工具
有效
专利申请进度
申请
2018-01-16
授权
2018-08-17
预估到期
2028-01-16
专利基础信息
申请号 CN201820068166.0 申请日 2018-01-16
授权公布号 CN207742133U 授权公告日 2018-08-17
分类号 G01N23/2202
分类 测量;测试;
申请人名称 北京当升材料科技股份有限公司
申请人地址 北京市丰台区南四环西路188号总部基地18区21号
专利法律状态
  • 2018-08-17
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种新型X射线衍射仪制样工具,该工具包括样品台、样品槽、筛网、和刮片,其中样品槽位于样品台内部;筛网平行于样品台之上,并与样品槽上下对应;刮片倾斜置于样品台上,并且一边与样品台紧密贴合。该工具制样更加均匀,减小测试带来的系统误差,提高测试结果的稳定性和重现性。