一种固定齿偏差补偿方法及其系统

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专利状态

一种固定齿偏差补偿方法及其系统

有效

专利申请进度

申请

2012-10-16

申请公布

2013-01-30

授权

2014-10-08

预估到期

2032-10-16

专利基础信息

申请号	CN201210391469.3	申请日	2012-10-16
申请公布号	CN102901834A	申请公布日	2013-01-30
授权公布号	CN102901834B	授权公告日	2014-10-08
分类号	G01N35/02
分类	测量；测试;
申请人名称	迪瑞医疗科技股份有限公司
申请人地址	吉林省长春市高新开发区云河街95号

专利法律状态

2017-07-18

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01N35/02；变更事项:专利权人；变更前:长春迪瑞医疗科技股份有限公司；变更后:迪瑞医疗科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:130012 吉林省长春市高新开发区云河街95号；变更后:130012 吉林省长春市高新开发区云河街95号
2014-10-08

授权

状态信息

授权
2013-03-13

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N35/02；申请日:20121016
2013-01-30

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种固定齿偏差补偿方法及其系统，其包括扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，选取所述全自动生化仪反应盘的任意齿为基准齿，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差，按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和转动所述反应盘，以及执行该方法的系统。采用先扫描反应盘选定一个基准齿，然后根据该基准齿确定每个齿与基准齿的偏差，最后根据全自动生化仪电机步数与所述偏差的和来转动反应盘，消除了定位齿机械加工过程中存在固有偏差的缺陷，提高了反应盘的定位精度，从而使反应盘上的比色杯能准确的到达指定位置，提高了全自动生化分析仪的测量效率。

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