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专利状态
两孔空间交错的中心距检测装置
有效
专利申请进度
申请
2018-07-18
授权
2019-02-15
预估到期
2028-07-18
专利基础信息
申请号 CN201821139551.6 申请日 2018-07-18
授权公布号 CN208505202U 授权公告日 2019-02-15
分类号 G01B5/14
分类 测量;测试;
申请人名称 成都华川电装有限责任公司
申请人地址 四川省成都市龙泉驿区十陵镇
专利法律状态
  • 2019-02-15
    授权
    状态信息
    授权
摘要
一种两孔空间交错的中心距检测装置,包括基准定位轴件,基准定位轴件为从前到后依次设有测量轴段、定位轴段、限位凸缘的一体结构,定位轴段用于与待检工件上第一孔过渡配合,测量轴段直径小于定位轴段,限位凸缘直径大于定位轴段,限位凸缘前端为垂直于轴心线的限位端面;还包括设有通规的定心轴,通规位于定心轴的轴段上沿定心轴径向延伸且与定心轴为一体,通规下端为定心轴向下延伸的定位部,定位部用于与待检工件上第二孔配合定位,定心轴上过盈配合安装一止规,止规与通规交叉沿定心轴径向延伸,通规配合在止规下端设有让位凹槽中,止规和通规的下端面齐平。本检测装置体积小、结构简单、制造成本低,检测的精度、准确度高,使用简便快捷。