分光器件检测方法及检测系统

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专利状态

分光器件检测方法及检测系统

有效

专利申请进度

申请

2015-06-05

申请公布

2017-01-04

授权

2018-11-30

预估到期

2035-06-05

专利基础信息

申请号	CN201510306959.2	申请日	2015-06-05
申请公布号	CN106290374A	申请公布日	2017-01-04
授权公布号	CN106290374B	授权公告日	2018-11-30
分类号	G01N21/88
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳超多维科技有限公司
申请人地址	广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室（入驻深圳市前海商务秘书有限公司）

专利法律状态

2018-11-30

发明专利权授予

状态信息

授权
2018-08-07

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利申请权的转移；IPC(主分类):G01N 21/88；专利申请号:2015103069592；登记生效日:20180718；变更事项:申请人；变更前权利人:深圳超多维光电子有限公司；变更后权利人:深圳超多维科技有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:518053 广东省深圳市南山区华侨城东部工业区东H-1栋101；变更后权利人:518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
2017-02-01

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N 21/88；申请日:20150605
2017-01-04

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明适用于立体显示技术领域，提供了分光器件检测系统，包括检测图像获取装置和图像处理装置，图像获取装置获取分光器件在聚焦状态下形成的检测图像，图像处理装置判断检测图像是否满足第一预设条件，检测图像包括波峰区间和波谷区间，第一预设条件是指，波峰区间包括至少一个波峰极值，且波峰极值不小于第一预设值，波谷区间的平滑度值不大于第二预设值，若检测图像满足第一预设条件，则图像处理装置判定分光器件为合格品。利用分光器件在聚焦状态下的能量分布，完成对分光器件的质量检测，检测过程无需操作人员评价，检测结果可靠性高，且检测效率高。本实施例还提供分光器件检测方法，该检测方法简单易于操作，确保检测结果可靠。

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