一种用于色选机的X射线散射校正系统及方法

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专利状态

一种用于色选机的X射线散射校正系统及方法

有效

专利申请进度

申请

2021-07-07

申请公布

2021-10-29

授权

2023-04-21

预估到期

2041-07-07

专利基础信息

申请号	CN202110767524.3	申请日	2021-07-07
申请公布号	CN113560218A	申请公布日	2021-10-29
授权公布号	CN113560218B	授权公告日	2023-04-21
分类号	B07C5/342;G01N23/02;G01N23/20
分类	将固体从固体中分离；分选;
申请人名称	安徽中科光电色选机械有限公司
申请人地址	安徽省合肥市肥西县桃花镇

专利法律状态

2023-04-21

授权

状态信息

授权
2021-10-29

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种用于色选机的X射线散射校正系统及方法，涉及X射线成像技术领域。本发明包括支架上方固定安装有控制装置；支架上方还固定安装有射线发生装置，射线发生装置内部固定安装有限束装置；射线发生装置下方设有传送装置，传送装置固定安装在支架中部；传送装置下方设有射线探测装置，射线探测装置固定安装在支架下方，射线探测装置上表面固定有透射光线探测阵列和若干散射光线探测阵列；射线探测装置和传送装置之间设有射线防护装置。本发明通过设置透射光线探测阵列和若干散射光线探测阵列组合方式，实现物体移动方向和探测器排布方向的实时散射校正，提升调试效率和物体成像精度。

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