下行链路的测试方法及装置

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专利状态

下行链路的测试方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2021-06-03

申请公布

2022-12-20

授权

2023-10-20

预估到期

2041-06-03

专利基础信息

申请号	CN202110620108.0	申请日	2021-06-03
申请公布号	CN115499350A	申请公布日	2022-12-20
授权公布号	CN115499350B	授权公告日	2023-10-20
分类号	H04L43/50
分类	电通信技术;
申请人名称	大唐移动通信设备有限公司
申请人地址	北京市海淀区上地东路5号院1号楼1层

专利法律状态

2023-10-20

授权

状态信息

授权
2023-01-03

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):H04L43/50；申请日:20210603
2022-12-20

公布

状态信息

公布

摘要

本申请实施例提供一种行链路的测试方法及装置。所述方法包括：通过控制系统平台OSP对下行链路配置参数进行打桩，并将OSP打桩后的下行链路配置参数输入至数据链路层测试模块；通过自动测试平台ATP对下行链路配置参数进行打桩，并将ATP打桩后的下行链路配置参数输入至物理层测试模块；将校准系数输入至有源天线单元AAU测试模块，以使所述AAU测试模块根据所述校准系数对经过数据链路层测试模块以及物理层测试模块测试的下行链路配置参数进行天线校准，以得到下行链路测试结果数据；其中，所述校准系数是根据所述下行链路配置参数确定的。本申请实施例提供的下行链路的测试方法及装置可以大幅度提高测试效率。

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