用于分子诊断设备的配平卡

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专利状态

用于分子诊断设备的配平卡

有效

专利申请进度

申请

2022-02-25

授权

2023-03-28

预估到期

2032-02-25

专利基础信息

申请号	CN202221993203.1	申请日	2022-02-25
授权公布号	CN218766957U	授权公告日	2023-03-28
分类号	G01N35/00;G01N35/04
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市理邦精密仪器股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市坪山新区坑梓街道金沙社区金辉路15号

专利法律状态

2023-03-28

授权

状态信息

授权

摘要

本申请提供了一种用于分子诊断设备的配平卡，本申请涉及分子检测技术领域。用于分子诊断设备的配平卡包括本体以及参比膜，本体设有检测腔，所述检测腔用于安装在所述分子诊断设备的检测座上；参比膜设置在所述检测腔内，所述参比膜的成分包括荧光指示剂，以在所述分子诊断设备的光发生器照射下激发出荧光。本申请实现了配平卡的多用途使用，在对检测卡进行离心处理时，配平卡可进行配平，降低离心处理过程中检测卡分布不均产生的噪音，另外荧光指示剂可实现对分子诊断设备的光路的检测，降低故障对检测卡检测结果的影响。

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