Cr靶XRD法测试连退板磷化膜P比的方法

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专利状态

Cr靶XRD法测试连退板磷化膜P比的方法

有效

专利申请进度

申请

2020-06-10

申请公布

2020-09-18

授权

2023-05-09

预估到期

2040-06-10

专利基础信息

申请号	CN202010526088.6	申请日	2020-06-10
申请公布号	CN111678934A	申请公布日	2020-09-18
授权公布号	CN111678934B	授权公告日	2023-05-09
分类号	G01N23/2055;G01N23/207
分类	测量；测试;
申请人名称	首钢集团有限公司
申请人地址	北京市石景山区石景山路68号

专利法律状态

2023-05-09

授权

状态信息

授权
2020-09-18

公布

状态信息

公布

摘要

本发明具体涉及一种Cr靶XRD法测量连退板磷化膜P比的方法，属于材料检测技术领域，该方法包括：取预测样品小试样；采用Cr靶X射线衍射法对所述小试样进行全谱扫描；判断所述全谱扫描结果中，Fe基体衍射峰以外的磷化膜最强峰位是否在14°‑15°之间，若是，则对所述小试样进行窄谱扫描；根据所述窄谱扫描的峰强值，获得连退板磷化膜P比；本发明实施例提供的Cr靶XRD法测试连退板磷化膜P比的方法，采用Cr靶代替Cu靶，提高了X射线源的波长，使磷化膜中重叠峰的衍射角2θ差由0.24°提高到0.35°，使磷化膜中两相衍射峰的重叠减弱，进而提高P比的计算精度，降低由于重叠峰导致的误差。

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