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专利状态
涂层测厚仪(DT-157H)
有效
专利申请进度
申请
2018-04-28
授权
2018-11-20
预估到期
2028-04-28
专利基础信息
申请号 CN201830189277.2 申请日 2018-04-28
授权公布号 CN304902704S 授权公告日 2018-11-20
分类号 10-04(11)
分类
申请人名称 深圳市华盛昌科技实业股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区西丽白芒松白公路百旺信工业区五区19栋
专利法律状态
  • 2018-11-20
    授权
    状态信息
    授权
摘要
1.本外观设计产品的名称:涂层测厚仪(DT‑157H)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于测量涂层的厚度。3.本外观设计产品的设计要点:产品的整体形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:组合状态图。