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专利状态
一种涂层测厚仪
有效
专利申请进度
申请
2021-01-29
授权
2021-08-27
预估到期
2031-01-29
专利基础信息
申请号 CN202120271900.5 申请日 2021-01-29
授权公布号 CN214066022U 授权公告日 2021-08-27
分类号 G01B21/08
分类 测量;测试;
申请人名称 优利德科技(中国)股份有限公司
申请人地址 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业北一路6号
专利法律状态
  • 2021-08-27
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种涂层测厚仪,包括:外壳一端开设有探测开口,靠近于该探测开口一端且在该外壳内设置有定位座;处理器设置于所述外壳中,该处理器靠近于所述定位座一端设置有检测开关;套筒安装于所述外壳中且位于所述定位座一侧,该套筒一端从所述探测开口伸出;传感器配对地穿过所述套筒中,该传感器一端延伸出所述套筒的右端开口,该传感器另一端通过压簧与所述定位座连接,该传感器靠近于所述压簧一端连接有推块,所述推块对应所述检测开关可活动地设置于所述定位座上方。本本涂层测厚仪无需长时间检测传感器信号来判定传感器状态,大大降低对传感器状态判断的几率,并且减少处理器的处理时间。