一种电子天平的密度测定套件

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专利状态

一种电子天平的密度测定套件

有效

专利申请进度

申请

2014-04-25

授权

2014-09-10

预估到期

2024-04-25

专利基础信息

申请号	CN201420209145.8	申请日	2014-04-25
授权公布号	CN203824864U	授权公告日	2014-09-10
分类号	G01N9/08
分类	测量；测试;
申请人名称	赛多利斯科学仪器（北京）有限公司
申请人地址	北京市顺义区空港工业区B区裕安路33号

专利法律状态

2014-09-10

授权

状态信息

授权

摘要

一种应用于电子天平的密度测定套件，其特征在于，该密度套件由支架、沉浸架、样品架、水槽、温度计、塑料秤盘、覆盖盘、底板组成。所述的支架下面连接有沉浸架，沉浸架与样品架固定连接，水槽设置于支架上，所述的水槽边缘为凸起的棱边，从而防止水滴向后面覆盖盘的开孔处。温度计通过夹子连接在水槽的一侧。所述的底板四周侧面设置有丌口，从而利于水滴流出，底板上设有圆凸起、覆盖盘上设有直边凸起，从而防止水滴向内流动，覆盖盘扣在底板上从而防止水滴溅到天平内部。支架底部嵌套有塑料秤盘，防静电塑料秤盘有很高的强度来支撑支架和称量物，并且这种材料还有一定的阻值来缓解外部电脉冲的冲击。通过这样的设计，使密度测定套件符合天平的测量环境，保证装配了密度测定套件的天平能够满足CMC电磁兼容的要求。温度计的设计可以测量液体的温度，从而丰富密度套件的功能。

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