基波频率测量方法、测量终端及存储介质

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专利状态

基波频率测量方法、测量终端及存储介质

有效

专利申请进度

申请

2020-08-05

申请公布

2020-11-06

授权

2023-03-14

预估到期

2040-08-05

专利基础信息

申请号	CN202010782601.8	申请日	2020-08-05
申请公布号	CN111896807A	申请公布日	2020-11-06
授权公布号	CN111896807B	授权公告日	2023-03-14
分类号	G01R23/02;G01R23/167
分类	测量；测试;
申请人名称	威胜集团有限公司
申请人地址	湖南省长沙市高新技术开发区桐梓坡西路468号

专利法律状态

2023-03-14

授权

状态信息

授权
2020-11-06

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种基波频率测量方法、测量终端及存储介质，所述方法包括：根据预设采样频率采集多个原始电压信号；对采集的原始电压信号进行数字低通滤波处理，获得滤波后信号；根据各滤波后信号对应的电压值和位置序列号，获取过零点和过零点的位置序列号；选择任意两个过零点，并根据选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的过零点数量和预设采样频率，获得基波频率。本发明解决了现有基于一元线性回归的过零检测法测量频率受谐波影响大的问题。

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