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专利状态
计算机辅助校核的超声波探伤方法
有效
专利申请进度
申请
2012-05-23
申请公布
2012-09-12
授权
2014-06-18
预估到期
2032-05-23
专利基础信息
申请号 CN201210161884.X 申请日 2012-05-23
申请公布号 CN102662000A 申请公布日 2012-09-12
授权公布号 CN102662000B 授权公告日 2014-06-18
分类号 G01N29/04
分类 测量;测试;
申请人名称 无锡化工装备股份有限公司
申请人地址 江苏省无锡市滨湖区华谊路36号
专利法律状态
  • 2015-05-20
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更
    状态信息
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更;IPC(主分类):G01N29/04;变更事项:专利权人;变更前:无锡化工装备股份有限公司;变更后:无锡化工装备股份有限公司;变更事项:地址;变更前:214000 江苏省无锡市滨湖区华谊路36号;变更后:214131 江苏省无锡市滨湖区华谊路36号
  • 2015-02-11
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更
    状态信息
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更;IPC(主分类):G01N29/04;变更事项:专利权人;变更前:无锡化工装备有限公司(原无锡化工装备总厂);变更后:无锡化工装备股份有限公司;变更事项:地址;变更前:214000 江苏省无锡市滨湖区华谊路36号;变更后:214000 江苏省无锡市滨湖区华谊路36号
  • 2014-06-18
    授权
    状态信息
    授权
  • 2012-11-07
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01N29/04;申请日:20120523
  • 2012-09-12
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种计算机辅助校核的超声波探伤方法,包括以下步骤:1计算机建模,2初选扫查参数,3进行直射波扫查模拟,4进行一次反射波扫查模拟,5校核区域覆盖情况并对参数作动态调整,6进行真实的超声波探伤检测。本发明利用计算机模拟,可以直观地展现焊接接头的横截面上直射波和一次反射波扫查的模拟状况,同时通过实现面域的动态实时调整,直观方便地进行快速调整,从而有效地提高了校核与调整参数的效率。本发明可以基于最优的K值进行扫查,灵活调节其他参数,从而保证了获得最优的超声图像,保证了探伤检测质量。