一种检测电路和检测方法_专利查询-品牌网

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专利状态

一种检测电路和检测方法

有效

专利申请进度

申请

2018-12-29

申请公布

2020-07-07

授权

2022-07-12

预估到期

2038-12-29

专利基础信息

申请号	CN201811647929.8	申请日	2018-12-29
申请公布号	CN111381151A	申请公布日	2020-07-07
授权公布号	CN111381151B	授权公告日	2022-07-12
分类号	G01R31/3177
分类	测量；测试;
申请人名称	龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

专利法律状态

2022-07-12

授权

状态信息

授权
2021-01-29

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G01R31/3177；变更事项:申请人；变更前:龙芯中科技术有限公司；变更后:龙芯中科技术股份有限公司；变更事项:地址；变更前:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼；变更后:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
2020-07-31

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/3177；申请日:20181229
2020-07-07

公布

状态信息

公布

摘要

本发明实施例提供了一种检测电路和检测方法，检测电路包括：被测模块和检测模块；被测模块具有翻转状态输出端以及数据输出端，被测模块通过翻转状态输出端与检测模块连接，被检测模块还通过数据输出端与预置的数据处理装置连接；被测模块用于生成粒子翻转状态数据和运算结果数据。本发明实施例可以依据粒子翻转状态数据与预置的翻转参考数据的匹配情况，判断被测模块是否发生存储错误；判断被测模块是否发生存储错误的基础上，依据运算结果数据与预置的逻辑参考数据的匹配情况，判断被测模块是否发生采样错误。从而实现检测被测模块存储的数据是否发生错误，以及数据的错误类型，进而确定被测模块在受到粒子束辐射时的稳定性。

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