大芯径光纤衰减系数测试方法

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专利状态

大芯径光纤衰减系数测试方法

有效

专利申请进度

申请

2021-12-20

申请公布

2022-03-22

授权

2023-06-13

预估到期

2041-12-20

专利基础信息

申请号	CN202111559023.2	申请日	2021-12-20
申请公布号	CN114221696A	申请公布日	2022-03-22
授权公布号	CN114221696B	授权公告日	2023-06-13
分类号	H04B10/071;H04B10/079;G02B6/25;G02B6/255
分类	电通信技术;
申请人名称	长飞光纤光缆股份有限公司
申请人地址	广东省汕头市高新区科技东路15号

专利法律状态

2023-09-19

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):H04B 10/071；专利号:ZL2021115590232；登记生效日:20230901；变更事项:专利权人；变更前权利人:长飞光纤光缆股份有限公司；变更后权利人:汕头高新区奥星光通信设备有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道9号；变更后权利人:515051 广东省汕头市高新区科技东路15号；变更事项:专利权人；变更前权利人:；变更后权利人:长飞光纤光缆股份有限公司
2023-06-13

授权

状态信息

授权
2022-04-08

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):H04B10/071；申请日:20211220
2022-03-22

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种大芯径光纤衰减系数测试方法，样品光纤Xn的一端放置在光纤拉锥机中，将其芯径Rn熔融拉锥至Rn+1，样品光纤Xn被制作成为桥纤Yn。将所制作的桥纤根据光纤芯径大小依次排列，使用大直径光纤熔接机将各个桥纤中芯径匹配的一端熔接起来。将尾纤ZN芯径为R的一端连接到OTDR上，使用芯径为R0的一端与待测光纤通过光纤耦合器连接，使用OTDR对待测光纤进行测试，得到待测光纤的衰减系数测试结果。本发明测试的方法对于各种类型及不同工艺方法制造的大芯径光纤的测试均可方便实现，测试结果可行，能极大的提高生产测试效率降低测试成本并解决衰减均匀性测试困难的问题。

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