基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法

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专利状态

基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法

有效

专利申请进度

申请

2020-04-29

申请公布

2020-08-11

授权

2022-03-11

预估到期

2040-04-29

专利基础信息

申请号	CN202010358768.1	申请日	2020-04-29
申请公布号	CN111526069A	申请公布日	2020-08-11
授权公布号	CN111526069B	授权公告日	2022-03-11
分类号	H04L43/08;H04L43/50
分类	电通信技术;
申请人名称	深圳市吉祥腾达科技有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区西丽中山园路1001号TCL高新科技园E3栋6-8层

专利法律状态

2022-03-11

授权

状态信息

授权
2020-08-11

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种基于SD‑WAN的并发隧道性能测试方法，包括以下步骤：步骤S10，建立测试环境，测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备；步骤S20，第二待测设备通过第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址；步骤S30，第二待测设备创建至少两个分支节点，每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD‑WAN连接；步骤S40，第一待测设备进行授权设置；步骤S50，第二待测设备运行IPERF工具，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。本发明，测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。

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