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专利状态
芯片检测设备
有效
专利申请进度
申请
2020-09-11
授权
2021-01-12
预估到期
2030-09-11
专利基础信息
申请号 CN202021986574.8 申请日 2020-09-11
授权公布号 CN212341037U 授权公告日 2021-01-12
分类号 G01N21/892
分类 测量;测试;
申请人名称 浙江水晶光电科技股份有限公司
申请人地址 浙江省台州市椒江区星星电子产业区A5号(洪家后高桥村)
专利法律状态
  • 2021-01-12
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型提供了一种芯片检测设备,涉及芯片检测技术领域,所述芯片检测设备包括:滑轨结构、抽取装置、运输装置和图像采集检测装置;所述抽取装置用于将弹夹内的芯片载板抽出并放置在滑轨结构上;所述运输装置用于将所述滑轨结构上的芯片载板运输到检测位置,或者将检测位置的芯片载板从检测位置移出;所述图像采集检测装置位于所述检测位置的上方,用于采集芯片载板上芯片的图像,并将所述图像与标准图像进行比较,从而获取芯片载板上芯片的缺陷。