一种闪存存储器测试方法及装置

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专利状态

一种闪存存储器测试方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2013-06-28

申请公布

2013-09-25

授权

2016-05-25

预估到期

2033-06-28

专利基础信息

申请号	CN201310271869.5	申请日	2013-06-28
申请公布号	CN103324560A	申请公布日	2013-09-25
授权公布号	CN103324560B	授权公告日	2016-05-25
分类号	G06F11/22
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	深圳市江波龙电子股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

专利法律状态

2018-12-28

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更IPC(主分类):G06F 11/22变更前专利权人:深圳市江波龙电子有限公司地址:518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1变更后专利权人:深圳市江波龙电子股份有限公司地址:518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1
2016-05-25

授权

状态信息

授权
2013-10-30

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20130628
2013-09-25

公布

状态信息

公开

摘要

本发明适用于闪存存储器测试技术领域，提供了一种闪存存储器测试方法及装置，应用于基于安卓操作系统的终端设备，所述方法包括：所述终端设备接收启动闪存存储器测试程序的信息；所述终端设备接收用户对非JAVA函数库中的测试函数设置的无缓冲标志；所述终端设备通过JAVA本地调用接口调用非JAVA函数库中设置有所述无缓冲标志的测试函数对闪存存储器进行测试。通过本发明，可有效解决现有技术在Android平台下无法对闪存存储器进行测试的问题，使对闪存存储器测试的终端设备能从windows操作系统的PC转移到Android操作系统的手机、平板电脑等Android终端设备。

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