用于测量地层密度值的测量装置及其测量方法

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专利状态

用于测量地层密度值的测量装置及其测量方法

有效

专利申请进度

申请

2018-10-31

申请公布

2020-05-08

授权

2023-12-26

预估到期

2038-10-31

专利基础信息

申请号	CN201811282351.0	申请日	2018-10-31
申请公布号	CN111119871A	申请公布日	2020-05-08
授权公布号	CN111119871B	授权公告日	2023-12-26
分类号	E21B49/00
分类	土层或岩石的钻进；采矿;
申请人名称	中国石油化工集团有限公司
申请人地址	北京市朝阳区朝阳门北大街22号

专利法律状态

2023-12-26

授权

状态信息

授权
2020-05-08

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种用于测量地层密度值的测量装置，包括：钻铤，所述钻铤的内部设有轴向贯穿的偏心流道，及与所述偏心流道相对的沿轴向延伸的U型槽；设置在所述偏心流道中且构造成圆柱形的电路骨架，在所述电路骨架的下部设有电路控制系统；设置在所述钻铤内的密度仓源，在所述密度仓源内放置有放射性元素，且以固定角度向周围地层发射伽马射线；嵌入式安装在所述U型槽内且构造成圆筒状的承压外壳，在所述承压外壳内设有用于接收经地层散射的伽马射线的密度探测器短节，在所述密度探测器短节的下端设有用于传输所测得的信号参数的信号传输系统，所述信号传输系统与所述电路控制系统相连。本发明还提供了一种测量地层密度值的测量方法。

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