一种测量参考节点位置的方法、装置及系统

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专利状态

一种测量参考节点位置的方法、装置及系统

有效

专利申请进度

申请

2013-03-26

申请公布

2014-10-01

授权

2017-02-08

预估到期

2033-03-26

专利基础信息

申请号	CN201310100380.1	申请日	2013-03-26
申请公布号	CN104076325A	申请公布日	2014-10-01
授权公布号	CN104076325B	授权公告日	2017-02-08
分类号	G01S5/00
分类	测量；测试;
申请人名称	日电（中国）有限公司
申请人地址	北京市海淀区学院路35号世宁大厦20层

专利法律状态

2017-02-08

授权

状态信息

授权
2014-10-29

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01S 5/00申请日:20130326
2014-10-01

公布

状态信息

公开

摘要

本发明公开了一种测量参考节点位置的方法、装置及系统，属于计算机领域。所述方法包括：当信号接收装置在第一坐标系的一坐标轴上滑动并分多次接收信号发射装置发射的发射信号时，获取所述信号接收装置每次接收所述发射信号时在所述第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离；根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离，获取所述待测量的参考节点在标准坐标系中的位置。所述装置包括：第一获取模块和第二获取模块。所述系统包括：信号发射装置和信号接收装置。本发明能够提高测量参考节点位置的精度和效率。

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