同方威视技术股份有限公司发明专利、实用新型、外观专利-企业知识产权-品牌网

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同方威视技术股份有限公司

北京市海淀区双清路清华大学同方大厦A座2层

企业知识产权

品牌专利信息(158)
申请号	类型	专利
CN202330602400.X	外观专利	X射线检查设备（CX10080DC）
CN202330602402.9	外观专利	车辆安全检查设备
CN201810441775.0	发明专利	组合扫描X射线发生器
CN202111056437.3	发明专利	支撑平台和辐射检查设备
CN201810445416.2	发明专利	双点束扫描X射线发生器
CN202330602397.1	外观专利	X射线检查设备（CX5030T）
CN201710469197.7	发明专利	背散射探测模块
CN201910315913.5	发明专利	用于检测辐射图像中的局部异常的网络、方法和装置
CN202110344190.9	发明专利	射线检查设备和车载安检系统
CN201811654172.5	发明专利	毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法
CN202110627634.X	发明专利	定位控制方法和装置、自主充电控制装置、方法及系统
CN202110344212.1	发明专利	射线检查设备和车载安检系统
CN201910108229.X	发明专利	一种列车检查系统及检查方法
CN201710616652.1	发明专利	拉曼光谱检测设备
CN202011305516.9	发明专利	多通道射线检查设备
CN201711014616.4	发明专利	探测装置及扫描成像设备
CN202330601652.0	外观专利	智能分析仪（WEKNOW300-DL型）
CN202110344214.0	发明专利	射线检查设备和车载安检系统
CN201711485199.1	发明专利	用于食品安全检测的前处理装置以及前处理方法
CN201811654150.9	发明专利	毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法

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