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专利状态
天线测试装置
有效
专利申请进度
申请
2018-02-01
申请公布
2018-08-28
授权
2021-01-15
预估到期
2038-02-01
专利基础信息
申请号 CN201810102339.0 申请日 2018-02-01
申请公布号 CN108459217A 申请公布日 2018-08-28
授权公布号 CN108459217B 授权公告日 2021-01-15
分类号 G01R31/00;G01R29/10
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳市共进电子股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区南海大道1019号南山医疗器械产业园B116、B118;A211-A213、B201-B213;A311-313;B411-413
专利法律状态
  • 2021-01-15
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-09-21
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效
  • 2018-08-28
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供了一种天线测试装置,用于测试呈棒状、条状或鞭状的被测天线的无线性能,所述天线测试装置包括大致呈管状设置并通过沿一方向卷绕形成且套接于所述被测天线的耦合天线,所述耦合天线的卷绕方向上的两端不闭合。本发明在使用时可套在条状、棒状或鞭状天线等被测天线上,将所述耦合天线与射频线芯线相连,能够在狭小的周向密闭空间内对被测天线发出的径向磁场进行约束式的全方位耦合,相比于传统的一维测试时不大于180度的耦合范围,接受能量大,这种耦合方式把磁场耦合感应出来的感生电动势和电场耦合的感生电动势叠加到一起,导入射频线测试信号被有效增强。