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专利状态
集成电路的修调结构
有效
专利申请进度
申请
2020-01-16
授权
2020-09-22
预估到期
2030-01-16
专利基础信息
申请号 CN202020095518.9 申请日 2020-01-16
授权公布号 CN211555870U 授权公告日 2020-09-22
分类号 H01L23/525
分类 基本电气元件;
申请人名称 杭州士兰微电子股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市黄姑山路4号
专利法律状态
  • 2020-09-22
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本申请公开了一种集成电路的修调结构,该修调结构包括多个修调单元,每个修调单元包括:衬底;熔断结构,位于衬底上;钝化层,位于熔断结构上,且具有开口,开口将至少部分熔断结构暴露;保护层,位于钝化层上,且至少部分保护层与开口形成空腔;其中,至少部分熔断结构位于空腔内。该修调结构通过空腔为熔断结构提供了充足的容置空间,解决了在封装完成后,熔断结构熔断复连的问题。