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专利状态
半导体封装结构
有效
专利申请进度
申请
2021-10-20
授权
2022-03-11
预估到期
2031-10-20
专利基础信息
申请号
CN202122531061.9
申请日
2021-10-20
授权公布号
CN216005210U
授权公告日
2022-03-11
分类号
B81B7/00;B81B7/02;G01D18/00
分类
微观结构技术〔7〕;
申请人名称
杭州士兰微电子股份有限公司
申请人地址
浙江省杭州市黄姑山路4号
专利法律状态
2022-03-11
授权
状态信息
授权
摘要
本实用新型提供了一种半导体封装结构,包括基板、MEMS传感器管芯、塑封层及金属层,其中,MEMS传感器管芯位于所述基板的顶面,塑封层覆盖所述基板的顶面并包裹所述MEMS传感器管芯,所述金属层覆盖所述塑封层的顶面。由于金属层的杨氏模型和韧性较高,在进行校准测试时,可以抵抗测试夹具施加的应力,避免应力传递到MEMS传感器管芯内部,从而降低零漂值。
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