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专利状态
一种集成电路上下电测试装置
有效
专利申请进度
申请
2021-12-10
授权
2022-07-05
预估到期
2031-12-10
专利基础信息
申请号
CN202123108950.0
申请日
2021-12-10
授权公布号
CN216900801U
授权公告日
2022-07-05
分类号
G01R31/28;G01R1/04
分类
测量;测试;
申请人名称
杭州士兰微电子股份有限公司
申请人地址
浙江省杭州市黄姑山路4号(高新区)
专利法律状态
2022-07-05
授权
状态信息
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路上下电测试装置,能够提高集成电路上下电测试的效率。该装置包括电源模块、开关模块、处理模块、检测模块和夹具模块,处理模块向开关模块发送第一测试信号,使电源模块向夹具模块供电,并接收检测模块反馈的测试信息,由于处理模块可以控制电源模块为放置待检测集成电路的夹具模块供电,并且能够接收检测模块发送的对待检测集成电路进行检测的测试信息,此过程可以重复循环执行上电、检测、下电的步骤,无需人工手动切断或闭合电源完成待测集成电路的上下电测试,从而可以极大地提高集成电路的上下电测试效率。
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