一种基于FPGA的像素边缘位置检测方法、系统及存储介质

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专利状态

一种基于FPGA的像素边缘位置检测方法、系统及存储介质

有效

专利申请进度

申请

2023-07-24

申请公布

2023-08-29

授权

2023-10-31

预估到期

2043-07-24

专利基础信息

申请号	CN202310903881.7	申请日	2023-07-24
申请公布号	CN116664613A	申请公布日	2023-08-29
授权公布号	CN116664613B	授权公告日	2023-10-31
分类号	G06T7/13;G06T7/136;G06T7/70
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	合肥埃科光电科技股份有限公司
申请人地址	安徽省合肥市高新区中安创谷二期J2栋3层

专利法律状态

2023-10-31

授权

状态信息

授权
2023-09-15

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06T7/13；申请日:20230724
2023-08-29

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种基于FPGA的像素边缘位置检测方法、系统及存储介质，属于图像数据处理技术领域。本发明针对工业相机扫描得到的行数据进行处理，能够实时针对每一行图像数据进行边缘位置提取，通过设定亮区阈值、暗区阈值、连续亮区像素计数L、连续暗区像素计数M、亮暗过渡区域计数N，来进行边缘检测。若像素同一侧的N个像素的像素值，均位于设定的亮区阈值和暗区阈值之间，且该N个像素一侧的L个像素的像素值高于亮区阈值，另一侧的M个像素的像素值低于暗区阈值，则满足边缘检测条件。本发明能够有效地处理高速传输的大量数据，针对边缘点精度需求很高的场合，还可以利用边缘点附近多个像素梯度值计算出边界所处亚像素位置。

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