物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质

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专利状态

物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质

有效

专利申请进度

申请

2020-11-10

申请公布

2021-02-26

授权

2022-05-20

预估到期

2040-11-10

专利基础信息

申请号	CN202011246673.7	申请日	2020-11-10
申请公布号	CN112414326A	申请公布日	2021-02-26
授权公布号	CN112414326B	授权公告日	2022-05-20
分类号	G01B11/30
分类	测量；测试;
申请人名称	浙江华睿科技股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层

专利法律状态

2022-05-20

授权

状态信息

授权
2021-02-26

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及一种物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该物体表面平整度的检测方法包括：获取待测物体所在场景的三维点云，并提取三维点云中的待测物点云，根据待测物点云获取待测物体的待测面的深度图，根据深度图，计算深度图中每个点的点云信息、深度图中每个点的临近点高度以及深度图的外接图形，根据深度图、每个点的点云信息、每个点的临近点高度以及外接图形，计算待测面的图形特征值以及均匀度，根据图形特征值和均匀度，获取待测面的平整度。通过本申请，解决了相关技术中通过实际空间与像素的映射关系对物体进行测量，通用性较低的问题，提高了物体表面平整度检测的场景适用性。

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