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专利状态
一种CT探测装置及其数据处理方法
有效
专利申请进度
申请
2015-03-04
申请公布
2016-07-13
授权
2019-12-31
预估到期
2035-03-04
专利基础信息
申请号 CN201510096565.9 申请日 2015-03-04
申请公布号 CN105758873A 申请公布日 2016-07-13
授权公布号 CN105758873B 授权公告日 2019-12-31
分类号 G01N23/046;G01V5/00
分类 测量;测试;
申请人名称 北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址 北京市海淀区首体南路1号
专利法律状态
  • 2019-12-31
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-10-22
    著录事项变更
    状态信息
    著录事项变更IPC(主分类):G01N 23/04变更前 发明人:李保磊 发明人:张耀军 发明人:莫阳 发明人:李斌 发明人:张萍宇变更后 发明人:张萍宇 发明人:李斌 发明人:张耀军 发明人:李保磊 发明人:莫阳
  • 2016-08-10
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20150304
  • 2016-07-13
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种CT探测装置,所述探测装置包括高能探测层和低能探测层,在高能探测层与低能探测层之间设有金属过滤片,若干个高能探测器与低能探测器分别被排列成若干排,且高能探测器排与排之间的间距与低能探测器排与排之间的间距不等;每排高能探测器中每个高能探测器之间的间距与每排低能探测器中每个低能探测器之间的间距不等;高能探测器与高能PCB电路板连接,低能探测器与低能PCB电路板连接,PCB电路板与控制电路连接。数据处理方法包括依据对高能探测器与低能探测器数据的采集,获得对应像素的差值,再采用数据补偿算法获得高能探测器位置采集数据与低能探测器位置采集数据之间的差值,根据已有的位置采集数据,获得缺失的位置采集数据。