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专利状态
镀层测厚仪
有效
专利申请进度
申请
2017-07-06
授权
2018-03-13
预估到期
2027-07-06
专利基础信息
申请号 CN201720814613.8 申请日 2017-07-06
授权公布号 CN207095508U 授权公告日 2018-03-13
分类号 G01B11/06
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳市林上科技有限公司
申请人地址 广东省深圳市宝安区五区新安一路南天辉商厦4楼407房、408房
专利法律状态
  • 2018-03-13
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型提供了一种镀层测厚仪,包括控制器、至少一个与控制器相连接的测试点组,测试点组包括与控制器电连接的光源探头和接收探头,光源探头和接收探头相对设置,光源探头包括具有第一开口的光源探头座、盖合于第一开口处的光源探头盖,以及设于光源探头座内的光源组件,光源探头盖上设有第一透光板,第一透光板与光源探头座通过第一密封圈密封。本实用新型提供的镀层测厚仪,光源探头和接收探头之间相互独立,能够方便对测试安装的位置进行调整,且结构更加简单,现场安装更为方便,第一透光板和光源探头座之间通过第一密封圈相连接,能够有效地避免粉尘进入到光源探头的内部,增长光源探头的使用寿命,且清洁操作简单方便。