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专利状态
一种涂层测厚仪及涂层厚度检测方法
有效
专利申请进度
申请
2020-06-17
申请公布
2020-09-11
授权
2022-06-03
预估到期
2040-06-17
专利基础信息
申请号
CN202010552100.0
申请日
2020-06-17
申请公布号
CN111649662A
申请公布日
2020-09-11
授权公布号
CN111649662B
授权公告日
2022-06-03
分类号
G01B7/06
分类
测量;测试;
申请人名称
深圳市林上科技有限公司
申请人地址
广东省深圳市宝安区五区新安一路南天辉商厦4楼407房、408房
专利法律状态
2022-06-03
授权
状态信息
授权
2020-09-11
公布
状态信息
公布
摘要
一种涂层测厚仪及涂层厚度检测方法,所述涂层测厚仪包括:壳体、检测头、副电路板、显示屏、USB接口、电池、开关按键、主电路板和触发开关。本发明提供一种涂层测厚仪及涂层厚度检测方法,与传统的模拟震荡电路不同,激励信号采用数字震荡技术,采用高速ADC采集检测信号,确保仪器超高稳定性;超高的测量精度和重复性为测量很薄的覆层厚度提供了有效手段,可用于钢铁等铁磁性金属基体上的涂料、清漆、搪瓷、铬、镀锌等非磁性涂层的测量,尤其适合于精度要求高的薄镀层测量。
更多专利
1
多探头紫外辐照计
2
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12
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13
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14
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15
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17
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18
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19
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20
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