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专利状态

双基面高度卡尺

有效

专利申请进度

申请

2009-06-21

申请公布

2009-11-25

授权

2010-11-10

预估到期

2029-06-21

专利基础信息

申请号	CN200910114162.7	申请日	2009-06-21
申请公布号	CN101586937A	申请公布日	2009-11-25
授权公布号	CN101586937B	授权公告日	2010-11-10
分类号	G01B5/08;G01B5/18
分类	测量；测试;
申请人名称	桂林量具刃具有限责任公司
申请人地址	广西壮族自治区桂林市象山区崇信路40号

专利法律状态

2012-10-17

专利实施许可合同备案的生效、变更及注销

状态信息

专利实施许可合同备案的生效IPC(主分类):G01B 5/08合同备案号:2012450000069让与人:吴峰山、吴弋受让人:桂林安一量具有限公司发明名称:双基面高度卡尺申请日:20090621申请公布日:20091125授权公告日:20101110许可种类:排他许可备案日期:20120824
2010-11-10

授权

状态信息

授权
2010-01-20

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2009-11-25

公布

状态信息

公开

摘要

本发明公开了一种双基面高度卡尺，包括底座、垂直于底座的尺身、尺身上滑动的尺框和尺框上的测量爪(杆)，所述底座具有双基面结构，即底座的下平面为下测量基面和底座的上表面为上测量基面，所述测量爪(杆)为两个，分别对应于上、下测量基面；上测量基面为曲面或平面；所述测量爪(杆)与尺框固定连接或与尺框采用可拆卸方式连接。本发明既可以利用底座的下测量基面与平板结合对工件进行测量或划线，又能利用底座的上测量基面和相应测量爪(杆)单独测量工件的直径、高度、深度等尺寸，也可对小型工件进行划线等操作，比普通高度卡尺扩大了适用范围。

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