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专利状态
一种测量激光切割头光学元件同轴度的方法
有效
专利申请进度
申请
2019-12-30
申请公布
2020-03-27
授权
2021-07-09
预估到期
2039-12-30
专利基础信息
申请号 CN201911387412.4 申请日 2019-12-30
申请公布号 CN110926380A 申请公布日 2020-03-27
授权公布号 CN110926380B 授权公告日 2021-07-09
分类号 G01B11/27;G01B21/24
分类 测量;测试;
申请人名称 苏州迅镭激光科技有限公司
申请人地址 江苏省南通市如皋市城南街道办事处桃北村18组
专利法律状态
  • 2023-10-10
    专利申请权、专利权的转移
    状态信息
    专利权的转移;IPC(主分类):G01B 11/27;专利号:ZL2019113874124;登记生效日:20230918;变更事项:专利权人;变更前权利人:苏州迅镭激光科技有限公司;变更后权利人:江苏迅镭激光科技有限公司;变更事项:地址;变更前权利人:215100 江苏省苏州市苏州工业园区娄葑镇东富路58号;变更后权利人:226000 江苏省南通市如皋市城南街道办事处桃北村18组
  • 2021-07-09
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-04-21
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01B11/27;申请日:20191230
  • 2020-03-27
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明揭示了一种测量激光切割头光学元件同轴度的方法,其包括以下步骤:1)沿光轴依次设置一出光点、待测光学元件、靶面;2)以出光点为零点位置,以垂直于靶面的方向为轴线,将待测光学元件放置于位置A处,轴标为在靶面上获取一点A,点A的质心坐标为[x,y],其中L为出光点到靶面的距离,F为待测光学元件的焦距;3)将待测光学元件放置于位置B处,轴标为在靶面上获取一点B,点B的质心坐标为[x′,y′];4)计算待测光学元件与出光点的光轴同轴度偏离量为[dx,dy],其中其中,为位置A与位置B之间的距离。本发明能够快速测量出单个光学元件或光学系统与光轴的同轴度,提高了测量结果的可靠性与测量效率。