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专利状态
一种支持标志点按钮的跟踪式测量方法及装置
有效
专利申请进度
申请
2020-04-01
申请公布
2020-08-21
授权
2022-03-25
预估到期
2040-04-01
专利基础信息
申请号
CN202010252486.3
申请日
2020-04-01
申请公布号
CN111561866A
申请公布日
2020-08-21
授权公布号
CN111561866B
授权公告日
2022-03-25
分类号
G01B11/00
分类
测量;测试;
申请人名称
武汉中观自动化科技有限公司
申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号(凤凰园中路交汇处)光谷动力节能环保产业园内6号楼5层15号
专利法律状态
2022-03-25
授权
状态信息
授权
2020-08-21
公布
状态信息
公布
摘要
本发明提供一种支持标志点按钮的跟踪式测量方法及装置,该方法包括:在光学跟踪器坐标系下标定当前光学坐标测量仪的预定标志点坐标,并通过立体匹配确定所述预定标志点在控制点组坐标系下坐标;当所述预定标志点在光学跟踪器坐标系下坐标和控制点组坐标系下坐标满足刚性变换,则标定所述预定标志点为可识别状态;若连续检测到所述预定标志点处于可识别状态,则触发所述预定标志点对应的功能响应。通过该方案解决了现有光学坐标测量设备信号触发部分占用硬件资源的问题,可以节省信号触发部分占用的电源、按钮、通讯模块等硬件,并提升用户操作便捷性。
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